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OXFORD-243E手持式测厚仪是紧固件行业应用的理想工具
OXFORD-243E是一款灵便、易用的仪器,专为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量铁质底上所有金属镀层-即使在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。这款测厚仪是紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位的电涡流技术。
OXFORD-243E手持式测厚仪易于用户控制,并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性媲美。
测量技术:
一般的测试方法,例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式,由于探头的" 升离效应" 导致的底材效应,和由于测试件形状和结构导致的干扰,都无法达到对金属性镀层厚度的精确测量。
牛津仪器将的基于相位的电涡流技术应用到OXFORD-243E,使其达到了±3%以内(对比标准片)的准确度和0.3% 以内的精确度。
牛津仪器对电涡流技术的应用,将底材效应最小化,使得测量精准且不受零件的几何形状影响。
另外,仪器一般不需要在铁质底材上进行校准
优势:
1、采用基于相位的电涡流技术,集测量精确、价格合理、质量可靠的优势于一体的手持式测厚仪。
2、专为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量,铁质底上所有金属镀层-即使在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。
3、易于用户控制,并且可以同X线荧光测仪的准确性和精密性媲美。
4、为了让客户能以低成本购买OXFORD-243E免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。
技术参数及功能:
的ECP-M探头
ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计,此单探头可以测量
铁质底材上几乎所有金属覆层,例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探
针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。
测量范围:
铁上镀层 镀层厚度范围 探头
Zn 0–38μm ECP-M
Cd 0–38μm ECP-M
Cr 0–38μm ECP-M
Cu 0–10μm ECP-M
ECP-M探头规格(mm)
最小凸面半径 1.143
最小凹面半径 1.524
测量高度 101.6
最小测量直径 2.286
底材最小 304.8
OXFORD-243E涂层测厚仪标准配置
OXFORD-243E涂层测厚仪可选配
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