LN2探测器

LN2探测器是美国进口的高性能固态能量色散X射线能谱仪探测器。

SiLi探测器可用于所有应用，也可用于特殊的多元件设计。
低能量响应
LN2探测器提供优异的轻元素X射线响应。 低能x射线在硅中不会渗透很远，因此大多数事件发生得非常接近晶体的前接触，其中电荷的分数容易损失。 这可能导致峰值变宽，拖尾甚至能量转换。 ILN2探测器特殊前接触技术对于最小化这些影响至关重要，从而获得了的光谱性能，直到铍K X射线。
最终，在光谱低能量端的X射线检测器的效率取决于入口窗口的选择。 IXRF提供全面的检测器窗口，以适应所有应用。
高能量响应
诸如X射线荧光（XRF）的应用通常在宽范围的能量下需要良好的光谱响应。 IXRF系统的Si（Li）晶体可根据应用使用不同的有源厚度。 在更高的X射线能量下，更深的晶体更有效。 IXRF的Si（Li）晶体即使在高能量下也保持了优异的背景峰值和低尾部性能。

SiLi探测器的典型规格
有效面积（mm2）	10	30	50	80
分辨率[MnKa]（eV）	127	133	139	148
峰值：背景	20000：1	20000：1	15000：1	10000：1