phoenix nanotom m CT检测系统

工业X射线三维计算机断层扫描(micro ct 与 nano ct) 的经典应用是对金属和塑料铸件的检测和三维测量。 然而， phoenix| X射线的高分辨率X射线技术开辟了在众多领域的新应用，如传感器技术、电子、材料科学以及许多其他自然科学。

SMD感应器的nanoCT®, 尺寸 0805 (2.0 毫米 x 1.2 毫米). 三维X射线图像显示了后盖后的内部线圈。 在任何常规的X光片中，图层面板都是重叠的，但nanoCT ®成功地将对象逐层显示。

高分辨率计算机断层扫描(micro ct 与 nano ct)用于检测材料、复合材料、烧结材料和陶瓷，但也用来对地质或生物样品进行分析。 材料分配、空隙率和裂缝在微观分辨率上是三维可视的。

玻璃纤维复合材料的nanoCT ®： 纤维毡（蓝色）的纤维方向和基质树脂（橙色）会显示出来。 右边: 树脂内的空洞会以暗腔出现。 左边： 树脂已逐渐消失，以更好地使纤维毡可视化。 毡内的单根纤维是可见的。

在传感器和电子元件的检测中，高分辨率X射线技术主要用于检测和评估接触点、接头、箱子、绝缘子和装配情况。 它甚至可以检测半导体元件和电子设备（焊点），而无需拆卸设备。

nanoCT ®显示CSP组件的焊接接点。 焊接接点的三维形状,大约 直径400微米，空隙分布清晰可见。 焊接接点内部，不同的共晶焊料相是可见的。

用X射线进行的三维测量是的可对复杂物体内部进行无损测量的技术。 通过与传统的触觉坐标测量技术的对比，对一个物体进行计算机断层扫描的同时可获得所有的曲面点 - 包括所有无法使用其他测量方法无损进入的隐蔽形体，如底切。 v|tome|x s 有一个特殊的三维测量包，其中包含空间测量所需的所有工具，从校准仪器到表面提取模块,具有可能的精度，可再现且易于使用. 除了二维壁厚测量，CT体数据可以快速方便地与CAD数据进行比较，例如，分析完成元件，以确保其符合所有的规定尺寸。

对气缸盖3个装置的CAD 差异分析和测量。

在塑料工程中，高分辨率的X射线技术用于通过探测缩孔、气泡、焊接线和裂缝并分析漏洞来优化铸造和喷涂过程。 X射线计算机断层扫描(micro ct 与 nano ct)提供具有以下物体特点的三维图像：如晶粒流模式和填料分布,以及低对比度缺陷。

玻璃纤维增??强塑料样品的nanoCT ®： 玻璃纤维和矿物填料（紫色）的凝聚体的排列和分布都清晰可见。 纤维大约有10微米宽。

高分辨率计算机断层扫描(micro ct 与 nano ct)广泛用于检测地质样品，例如新资源的探索。 高分辨率CT系统以微观分辨率提供岩石样本、粘合剂、胶合剂和空洞的三维图像，并帮助确认特定的样本特征，如含油岩石中空洞的大小和位置

碳酸盐中的分段气孔(ø 2 毫米)